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Heavy-ion induced defects in phlogopite imaged by scanning force microscopy

Details

Veröffentlichung: 1.9.2002

https://doi.org/10.1016/S0257-8972(02)00270-0

Journal

Surface and Coatings Technology

Band: 158-159

Seiten: 439–443

Jahr: 2002

Autor:innen

Lang, M.; Glasmacher, U.; Moine, B.; Müller, C.; Neumann, R.; Wagner, G.

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